Image Analysis & Image Measurement System
- 影像分析與影像量測系統 -

Image-Pro^®
影像分析軟體

Image-Pro Image Analysis Software Base Feature

基本功能
Image-Pro^® 影像分析軟體

Image-Pro Image Analysis Software 2D Capture

2D 影像擷取/影像拍照
Image-Pro^® 影像分析軟體

Image-Pro Image Analysis Software 2D Measurements

2D 影像量測
Image-Pro^® 影像分析軟體

Image-Pro 2D Automated Analysis

2D 自動影像分析
Image-Pro^® 影像分析軟體

Image-Pro 3D Visualization

3D 視覺化影像分析
Image-Pro^® 影像分析軟體

Image-Pro AutoQuant Deconvolution

AutoQuant Deconvolution
Image-Pro^® 影像分析軟體

Image-Pro AI Deep Learning

AI Deep Learning
Image-Pro^® AI 影像分析軟體

Image-Pro AI for Life Science

Life Science
Image-Pro^® AI 影像分析軟體

Image-Pro AI for Materials Science

Materials Science
Image-Pro^® AI 影像分析軟體

MA-Pro 金相分析軟體

MA-Pro 金相分析軟體
粒徑大小分析(Grain Size)、球化率分析(Sphericity)、IMC共金分析，與其他多種材料的計量分析。

銅線IMC覆蓋率分析系統

銅線IMC覆蓋率分析系統
IMC百分比量測，減少人為主觀誤判，量測數據與影像可依客戶需求匯出Excel報表。

清潔度影像分析系統

清潔度影像分析系統
影像掃圖系統，智慧判定邊緣微粒子分析，依據清潔度規範即時呈現分析結果。

銅箔基板溢膠影像量測系統

銅箔基板溢膠影像量測系統
即時預覽功能，無需精準對位，支援批次量測並自動匯出Excel，自訂多組標準值，自動判定Pass / Fail。

纖維斷面影像量測系統

纖維斷面影像量測系統
適用於各種纖維剖面影像量測，實心纖維、中空纖維皆可適用，也能應用於類似型態的金相材料或生物醫學。

WDIS 晶圓定位及瑕疪檢測系統

WDIS 晶圓定位及瑕疪檢測系統
半導體晶圓檢查系統，可自訂義Wafer Map，實際Wafer的座標定位對應，即時觀察每一個Die有無Defect或Particle。

TurboScan自動化顯微影像快速掃瞄系統
實現顯微光學中高倍率、高解析、大範圍的影像拼圖掃瞄整合應用。完成定位、掃描、隨機拍照、自動化拍照存檔。

自動化顯微拍照拼圖控制系統

自動化顯微拍照拼圖控制系統

Z-Stack景深合成影像拍照系統

Z-Stack景深合成影像拍照系統

LED瑕疪檢測影像分析系統

LED瑕疪檢測影像分析系統

TS-Link影像量測軟體

TS-Link影像量測軟體

HD-Pro硬度量測軟體

HD-Pro硬度量測軟體

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