Image Analysis & Image Measurement System

最強大的64位元影像分析軟體，滿足您所有影像擷取、影像處理、影像量測、影像分析的整合需求，輕鬆取得準確的影像分析量化數據。

專業影像分析軟體適用於生命科學、半導體、工業檢測等各專業領域，是全球專業科學研究人員首選的影像分析工具。

提供多維空間與時間序列分析的3D影像分析軟體，具備強大的影像分析工具以及視覺化操作界面。

適用於傳統32-bit作業系統的影像分析軟體解決方案，您可以在舊的Windows 32位元平台上複製影像分析系統或支援舊型的硬體控制應用。

最專業的影像反卷積(Deconvolution)演算法，提供完整2D和3D螢光顯微鏡影像集合運算，是螢光影像分析軟體首選的解決方案。

粒徑大小分析(Grain Size)、球化率分析(Sphericity)、IMC共金分析，與其他多種材料的計量分析。

IMC百分比量測，減少人為主觀誤判，量測數據與影像可依客戶需求匯出Excel報表。

即時預覽功能，無需精準對位，支援批次量測並自動匯出Excel，自訂多組標準值，自動判定Pass / Fail。

影像掃圖系統，智慧判定邊緣微粒子分析，依據清潔度規範即時呈現分析結果。

顯微影像量化分析，可儲存多組設定檔，快速完成所需的分析條件，自動匯出數據報告與影像。

運用 Voronoi Map 原理，定量出物件於平面上的分佈結構與分佈關係。

適用於各種纖維剖面影像量測，實心纖維、中空纖維皆可適用，也能應用於類似型態的金相材料或生物醫學。

半導體晶圓檢查系統，可自訂義Wafer Map，實際Wafer的座標定位對應，即時觀察每一個Die有無Defect或Particle。

實現顯微光學中高倍率、高解析、大範圍的影像拼圖掃瞄整合應用。完成定位、掃描、隨機拍照、自動化拍照存檔。